Phoenix High Temperature Film Thickness Sensor PC-Based System

SKU:Phoenix High

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通用晶体振荡器

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Phoenix高温膜厚传感器

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台面单晶传感器头

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Colnatec Eon-ID

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Colnatec 的 Eon-LT

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Quartz Crystals,Alloy, 6MHz (TAN06RCA)

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产品信息

Phoenix High Temperature Film Thickness Sensor PC-Based System

Name: Phoenix High Temperature Film Thickness Sensor PC-Based System
SKU: Phoenix High
Availability: InStock
Rating: 5 (1 reviews)

描述

Phoenix 不仅是市场上第二先进的薄膜传感器，而且也是最实惠的。作为市场上最先进的薄膜传感器制造商（提供相同的性价比），Colnatec 的人们认为我们处于完美的位置来提出苹果的要求。这样的暴力。

Phoenix System 配备监控电子设备和易于使用的软件，可与用户的 PC 配合使用，提供简单而全面的解决方案，开箱即可执行薄膜测量操作。作为一个额外的好处，Phoenix 系统采用专有的、高度专业化的温度测量技术，可将薄膜厚度测量的准确性提高到惊人的精度。

在许多高温应用中，传感器经常会由于额定温度低而发生故障。与 Tempe 系统一样，Phoenix 系统不仅能够测量温度，而且能够承受比市场上任何其他薄膜系统更高的温度。这允许监控高达 500°C 的过程（例如 ALD、CVD 等）。

虽然该系统能够接受高达 10 MHz 的任何 14 毫米直径晶体，但它针对 Colnatec 制造的 RC 晶体进行了优化，这些晶体对辐射尖峰、快门打开、薄膜冷凝和源辐射引起的辐射和薄膜应力具有独特的免疫力。

作为 Phoenix 系统的一部分，Eon-LT 是一种可控薄膜厚度监测器，它将超高分辨率沉积测量系统封装到一个紧凑的 PC 兼容外壳中。

将 Phoenix 传感器头与 Eon-LT 控制器和 RC 晶体相结合代表了对现有薄膜测量技术的巨大飞跃。

精选

可选的内置显示器可容纳更多设置和应用程序

连接性包括以太网、USB 和 WiFi

全新界面，简单易用

传感器有不同的长度和不同的法兰，以实现灵活性

双通道可扩展性

提高工业环境可靠性和耐用性的先进技术

用于晶体测量的标准 SMA 空气侧连接

晶体驱动 4-10 MHz，1-200 Ω，任何类型（Quartz、SuperQuartz）

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